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产品说明
SPD100系列用于检测400nm到1100nm的光子，可以工作在连续和脉冲状态；
SPD200用于测量1300nm到1550nm的近红外光子，具有较高的重复频率和探测效率。
特点：
² 低暗计数
² 高重复频率
² 高探测效率
² 高计数率
² 自由空间或者光纤耦合
² 宽频谱响应
² 高可靠性
应用：
² 光子计数，时间相关光子计数
² 荧光分析，生物成像
² 量子光学
² 量子信息，量子通信
² OTDR
产品说明：
单光子探测器系列由两个范围内的探测器组成，一个是基于硅材料的单光子探测器，另外一个是基于InGaAs的单光子
探测器。它们可以测量（400-1600nm）的光子。SPD100系列用于检测400nm到1100nm的光子，可以工作在连续和脉冲状态；
SPD200用于测量1300nm到1550nm的近红外光子，具有较高的重复频率和探测效率。
性能参数：
SPD100 Si型探测器
|
参数 |
最小 |
典型 |
最大 |
单位 |
|
频谱范围 |
400 |
|
1100 |
纳米 |
|
有效探测面积直径 |
|
500 |
|
微米 |
|
光纤耦合方式 |
50/125mm多模光纤 |
|||
|
探测效率 % |
||||
|
@400nm
|
4 |
5 |
7 |
% |
|
@500nm |
15 |
18 |
20 |
% |
|
@600nm |
25 |
30 |
37 |
% |
|
@700nm |
40 |
45 |
48 |
% |
|
@800nm |
45 |
50 |
54 |
% |
|
@905nm |
55 |
60 |
62 |
% |
|
@1100nm |
2 |
3 |
4 |
% |
|
|
||||
|
暗计数 |
10 |
|
250 |
赫兹 |
|
工作方式 |
脉冲或者连续 |
|||
|
输出方式 |
TTL或者NIM |
|||
|
储藏温度 |
-40 |
|
85 |
。C |
|
工作温度 |
-20 |
25 |
40 |
。C |
SPD200 InGaAs型探测器
|
参数 |
最小 |
典型 |
最大 |
单位 |
|||
|
频谱范围 |
1300 |
|
1550 |
纳米 |
|||
|
有效探测面积直径 |
|
|
|
微米 |
|||
|
光纤耦合方式 |
9/125mm单模光纤 |
||||||
|
光纤接头 |
FC/PC |
||||||
|
探测效率
|
|
20 |
|
% |
|||
|
暗计数概率 |
1x10-6 |
5x10-6 |
1x10-5 |
|
|||
|
时间不稳定性（time jitter） |
|
50 |
|
皮秒 |
|||
|
门宽调节(gate duration) |
1－5 |
纳秒 |
|||||
|
可调死时间 |
1 |
微秒 |
|||||
|
输入触发幅度 |
1 |
伏 |
|||||
|
输出信号 |
TTL（＋5V，500ns）；NIM（－1V，12ns） |
||||||
|
最大输入光功率 |
3 |
毫瓦 |
|||||
|
触发频率 |
|
5 |
10 |
兆赫兹 |
|||
|
RF接口 |
SMA |
||||||
|
工作温度 |
-20 |
25 |
40 |
。C |
|||
|
储藏温度 |
-40 |
|
85 |
。C |
|||
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